AT3500型X射线衍射仪产品介绍
仪器功能:
X射线衍射仪主要应用于粉末、块状
或薄膜样品的物相定性、定量分析、晶
体结构分析、材料结构分析、晶体的取向性分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等。
仪器特点:
整机采用可编程序控制器PLC控制技术;
操作方便,一键式采集系统;
模块化设计,配件即插即用,无需校准;
触摸屏实时在线监测,显示仪器状态;
高功率X射线发生器,性能稳定可靠;
电子铅门联锁装置,双重防护,确保使用者安全。
仪器精度:
扫描范围:-110~161°;
扫描方式:透射、步进、连续、OMG;
最小步进角度:0.0001°;
2θ角重复精度:0.0001°;
全谱图2θ角线性精度:≤±0.01°
设备参数
靶材类型
靶材:Cu、Fe、Co、Cr、Mo、Ti、W等;波纹陶瓷管或金属陶瓷管;
焦点尺寸
1×10mm²或0.4×14mm²或0.2×12mm²
最大输出功率
2.4kW
X光管电压
10~60kV,1kV/step
X光管电流
2~60mA,1mA/step
最大输出功率
3kW高频高压固态发生器
输出稳定性
≤0.005%(电源电压波动10%)
测角仪结构
立式测角仪θs-θd结构(样品水平固定不动)
扫描半径
标准225mm(150mm~325mm连续可调)
扫描范围
-110°~161°
扫描速度
0.0012°~120°/min
驱动方式
θs-θd联动、θs或θd单动
扫描方式
步进、连续、OMG、透射
最小步进角度
0.0001°
2θ角重复精度
0.0001°
角度定位速度
1500°/min(2θ)
全谱衍射角度线性度
≤±0.01°(国际标准)
探测器类型
正比(PC)
闪烁(SC)
能谱分辨率
≤20%(PC)
≤50%(SC)
最大线性计数率
1×107CPS,噪音 ≤0.2CPS
安全指标
采用电子防护系统,铅门联锁装置,双重防护,安全可靠,确保使用者安全。
X射线泄漏
≤0.12µsv/h(X射线管最大功率时)
综合稳定度
≤0.3%(40kV,40mA,连续工作8小时)
外形尺寸(mm)
1300(长) ×1000(宽)×1800 (高)